Емкость резкого p-n перехода
p=pS.
В соответствии с законом Больцмана преодолеть потенциальный ба
рьер qVсможет только nexp (-qV/kT) электронов и p exp (-qV/kT) дырок. Поэтому потоки основных носителей, проходящие через p–n-переход, равны
n=n exp (-qV/kT), (2.4)
p=p exp (-qV/kT), (2.5)
На первых порах после мысленного приведения n- и p-областей в контакт потоки основных носителей значительно превосходят потоки неосновных носителей: n>>n, p>>p. Но по мере роста объемного заряда увеличивается потенциальный барьер p–n-перехода qV и потоки основных носителей согласно (2.4) и (2.5) резко уменьшаются. В то же время потоки неосновных носителей, не зависящие от qV[ см. (2.2) и (2.3)] остаются неизменными. Поэтому относительно быстро потенциальный барьер достигает такой высоты j= qV, при которой потоки основных носителей сравниваются с потоками неосновных носителей:
n=n, (2.6)
p=p. (2.7)
Это соответствует установлению в p–n-переходе состояния динамического равновесия.
Подставляя в (2.6) nиз (2.4) и n из (2.2), а в (2.7) p из (2.5) и p из (2.3), получаем
nexp (-qV/kT)= n, (2.8)
pexp (-qV/kT)= p. (2.9)
Отсюда легко определить равновесный потенциальный барьер p–n-перехода j= qV. Из (2.8) находим
j= qV= kTln (n/ n)= kTln (n p/n). (2.10)
Из (2.9) получаем
j= kTln (p/ p)=kTln (pn/ n). (2.11)
Из (2.10) и (2.11) следует, что выравнивание встречных потоков электронов и дырок происходит при одной и той же высоте потенциального барьера j. Этот барьер тем выше, чем больше различие в концентрации носителей одного знака в n- и p-областях полупроводника.
Рассчитаем контактную разность потенциалов при 300 К.
n=N=1,010
p=N=1,010
j= kTln(pn/n)=1,3810300ln=
= 414106,26=2,610(Дж)
Другие рефераты на тему «Физика и энергетика»:
Поиск рефератов
Последние рефераты раздела
- Автоматизированные поверочные установки для расходомеров и счетчиков жидкостей
- Энергосберегающая технология применения уранина в котельных
- Проливная установка заводской метрологической лаборатории
- Источники радиации
- Исследование особенностей граничного трения ротационным вискозиметром
- Исследование вольт-фарадных характеристик многослойных структур на кремниевой подложке
- Емкость резкого p-n перехода