Электромагнитные и тепловые методы контроля РЭСИ
Примечание: h – глубина залегания; / - раскрыв дефекта; Amin – минимальное изменение коэффициента излучения.
Можно отметить следующие основные преимущества теплового контроля:
- дистанционность (для ИК систем);
- высокая скорость обработки информации;
- высокая производительность испытаний, ограниченная скоростью нагре ва в активном режиме и скоростью сканирования в пассивном р
ежиме;
- высокое линейное разрешение (до 10 мкм в ИК микроскопии);
- возможность контроля при одно- и двухстороннем подходе к изделию;
- теоретическая возможность контроля практически любых материалов, если теплофизические или спектральные свойства дефектов и материалов различаются;
- практическая целесообразность методов контроля материалов с высокой и низкой теплопроводностью, а также контроля при обилии внешних тепловых помех;
- многопараметрический характер испытаний;
- малая зависимость результатов контроля от шероховатости поверхности по сравнению с некоторыми другими видами МНК;
- возможность взаимодополняющего сочетания ТК с другими методиками МНК, особенно радиационными, капиллярными и ультразвуковыми;
- возможность исследования динамических и статистических тепловых процессов, процессов производства, преобразования, передачи, потребления и консервации энергии различных видов;
- возможность прогнозирования тепловой деградации изделий; исследования усталостных и коррозионных процессов;
- совместимость со стандартными системами обработки информации;
- возможность поточного контроля и создания автоматизированных систем контроля и управления технологическими процессами.
Таблица 5
Критерии дефектности и их зависимость от различных факторов.
Критерии дефектности |
Влияние температуры нагрева (мощности ИТН) |
Влияние помехи | |||||
Аддитивной |
Мультипликативной | ||||||
Амплитудные |
+ |
+ | |||||
1. Абсолютная температура Т или температурный перепад AT |
+ | ||||||
2. Температурный контраст АТ/Т |
_ |
+ | |||||
Критерии дефектности |
Влияние температуры |
Влияние помехи | |||||
Аддитивной |
Мультипликативной | ||||||
3. Первая производная от температуры на поверхности по толщине изделия |
+ |
+ |
+ | ||||
4. Положение экстремумов первой производной от температуры по поверхностной координате |
+ | ||||||
5.Форма температурных перепадов |
- |
+ |
+ | ||||
Временные |
- |
- |
- | ||||
6.Время достижения относительных уровней температуры | |||||||
7. Наличие и время достижения экстремумов первой производной от температурного контраста по времени |
- |
- |
- | ||||
8. Время распространения поверхностной изотермы |
- |
- |
- | ||||
Примечание:
Знак + (-) означает, что помеха оказывает (не оказывает) существенное влияние на КД; принято, что локальное изменение оптических свойств не влияет на температуру.
Знак * свидетельствует об отсутствии исследований.
ЛИТЕРАТУРА
1. Глудкин О.П. Методы и устройства испытания РЭС и ЭВС. – М.: Высш. школа., 2001 – 335 с
2. Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование/ под ред. А.И.Коробова М.: Радио и связь, 2002 – 272 с.
3. Млицкий В.Д., Беглария В.Х., Дубицкий Л.Г. Испытание аппаратуры и средства измерений на воздействие внешних факторов. М.: Машиностроение, 2003 – 567 с
4. Национальная система сертификации Республики Беларусь. Мн.: Госстандарт, 200
5. Федоров В., Сергеев Н., Кондрашин А. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств – Техносфера, 2005. – 504с.
Другие рефераты на тему «Коммуникации, связь и радиоэлектроника»:
Поиск рефератов
Последние рефераты раздела
- Микроконтроллер системы управления
- Разработка алгоритмического и программного обеспечения стандарта IEEE 1500 для тестирования гибкой автоматизированной системы в пакете кристаллов
- Разработка базы данных для информатизации деятельности предприятия малого бизнеса Delphi 7.0
- Разработка детектора высокочастотного излучения
- Разработка микропроцессорного устройства для проверки и диагностики двигателя внутреннего сгорания автомобиля
- Разработка микшерного пульта
- Математические основы теории систем