Программатор микроконтроллеров и микросхем памяти
где Нм.п.эрэ – количество ЭРЭ, подготовка которых к монтажу может осуществляться механизированным и автоматизированным способом.
Км.п.эрэ = 255/255
Км.п.эрэ =1
5.2.4 Коэффициент повторяемости ЭРЭ рассчитывается по формуле 6.
Кпов.эрэ = 1 - Нт.эрэ/Нэрэ (6)
где Нт.эрэ – общее количество типоразмеров ЭРЭ в изделии, шт.
Кпов.эрэ = 1 – 14/251
Кпов.эрэ = 0,95
5.2.5 Коэ
ффициент применяемости ЭРЭ рассчитывается по формуле 7.
Кп.эрэ = 1 - Нт.ор.эрэ/Нт.эрэ (7)
где Нт.ор.эрэ – количество типоразмеров оригинальных ЭРЭ в изделии, шт.
Кп.эрэ = 1 - 3/14
Кп.эрэ = 0,7
5.2.6 Основным показателем, используемым для оценки технологичности конструкции, является комплексный показатель для технологичности конструкции изделия, который рассчитывается по формуле 8.
К=(К1j1+ К2j2…+ Кnjn)/(j1+j2+…jn) (8)
Коэффициент j зависит от порядкового номера основных показателей технологичности, ранжированная последовательность которых устанавливается экспертным путем.
Уровень технологичности конструкции изделия при известном нормативном показателе оценивается отношением полученного комплексного показателя к нормативному, которое должно удовлетворять условию, показанного в формуле 9.
(9)
Нормативное значение показателя технологичности конструкции блоков электронной техники для условий опытного производства составляет 0,4…0,7, следовательно:
К/Кн=0,54/0,4
К/Кн »1,35
Так как 1,75>1, то уровень технологичности конструкции данного изделия соответствует всем требованиям.
На основании качественной и количественной оценок можно сделать вывод, что устройство является технологичным по своей конструкции, то есть обеспечивает минимальные затраты при заданных показателях качества производства.
6 РАСЧЁТНАЯ ЧАСТЬ
6.1 Расчёт потребляемой мощности схемы.
Потребляемая мощность разрабатываемого устройства будет равна сумме мощностей потребляемых его элементами. Значения потребляемой мощности на основе справочных данных для каждого элемента определяем по формулам 10 и 11.
Данные по элементам и рассчитанная мощность сведены в таблицу 13.
Таблица 13. Данные по элементам
Наименование элемента |
Напряжение питания Uпит, В |
Потребляемый ток Iпот, мА |
Потребляемая мощность Pпот, Вт |
Микроcхемы | |||
К555АП5 |
5 |
54 |
0,27 |
К555АП6 |
5 |
95 |
0,475 |
К555ИР23 |
5 |
45 |
0,225 |
К555КП11 |
5 |
14,5 |
0,07 |
К555ЛА13 |
5 |
12 |
0,06 |
К555ЛН3 |
5 |
6,6 |
0,033 |
К572ПА1А |
15 |
2 |
0,03 |
К574УД2А |
15 |
5 |
0,45 |
КР580ВВ55А |
5 |
120 |
0,6 |
Резисторы | |||
С2-33H |
- |
- |
0,5 |
Транзисторы | |||
КТ361Г |
0,4 |
50 |
0,02 |
КТ805АМ |
2,5 |
5000 |
12,5 |
КТ814Б |
0,6 |
1500 |
0,9 |
КТ972А |
1,5 |
4000 |
6 |
КТ973А |
1,5 |
4000 |
6 |
∑ = 28,133
Формула расчета потребляемой мощности:
. (10)
Для транзисторов: . (11)
Так как потребляемая мощность схемы равна 28,133 Вт, можно сделать заключение, что программатор микроконтроллеров и микросхем памяти достаточно мощное устройство, что позволяет уменьшить сбои во время программирования.
6.2 Расчёт надёжности.
Надежность – это свойство объекта выполнять заданные функции, сохраняя во времени значения установленных эксплуатационных показателей в допустимых пределах, соответствующих принятым режимам и условиям использования, технического обслуживания, ремонта, хранения и транспортирования.
Эксплуатационная надёжность аппаратуру зависит в основном от качества разрабатываемой конструкции аппаратуры, качество в использующих в аппаратуре комплектующих изделий и уровня технологического процесса изготовляемой аппаратуры. Ответственность за качество серийно-выпускаемой аппаратуры несёт изготовитель, независимо от причин её отказов. Поэтому изготовители РЗА при выборе производственного процесса должен учесть значение нескольких параметров характеризующих надёжность изделия.
При расчёте надёжности определяются основные показатели надёжности: суммарная интенсивность отказов, наработка на отказ, вероятность безотказной работы, средняя наработка на отказ.
Для оценки надежности используется следующие количественные показатели:
1) Суммарная интенсивность отказов λ(m) рассчитывается по формуле 12.
λ = ∑ λi (12)
где λi – интенсивность отказов каждого элемента, рассчитывается по формуле 13.
λi=λ0*а1*а2*а3* …*аn (13)
Другие рефераты на тему «Коммуникации, связь и радиоэлектроника»:
Поиск рефератов
Последние рефераты раздела
- Микроконтроллер системы управления
- Разработка алгоритмического и программного обеспечения стандарта IEEE 1500 для тестирования гибкой автоматизированной системы в пакете кристаллов
- Разработка базы данных для информатизации деятельности предприятия малого бизнеса Delphi 7.0
- Разработка детектора высокочастотного излучения
- Разработка микропроцессорного устройства для проверки и диагностики двигателя внутреннего сгорания автомобиля
- Разработка микшерного пульта
- Математические основы теории систем