Конструирование модуля ЭВМ для обработки телеметрических данных
Используя полученные данные, определяются интенсивности отказов ЭРИ.
Интенсивность отказов резисторов:
λр= λoр к mр ,1/ч
λр= 0,87*2,07*8= 14,4 *10-61/ч
Интенсивность отказов диодов:
λд= λoд к mд ,1/ч
λд= 0,2*2,07*5= 2,07*10-6 1/ч
Интенсивность отказов конденсаторов:
λк= λoк к mк ,1/ч
λк= 0,04*2,07*28= 2,32*10-6 1
/ч
Интенсивность отказов микросхем:
λмкс= λoмкс к mмкс ,1/ч
λмкс= 0,013*2,07*18= 0,48*10-6 1/ч
Интенсивность отказов паяльных соединений:
λпс= λoпс к mпс ,1/ч
λпс= 0,01*2,07*450= 9,32* 10-61/ч
Интенсивность отказов кварца:
λкв= λoкв к mкв ,1/ч
λкв= 0,05*2,07*1=0,1*10-6 1/ч
Определяем интенсивность отказов модуля:
Λ=Σλi ,1/ч
Λ=14,4 +2,07 +2,32 +0,48 +9,32+0,1=28,69 *10-61/ч
Определяем среднее время наработки на отказ:
Тср. расч=1 / Λ, ч
Тср. расч=1 / 28,69*10-6=34855 час
Определяем вероятность безотказной работы:
Р(t)=е - Λt
Р(1000)=е -28,69*1000 = 0.98
Заключение
В последнее время научно-исследовательские и производственные предприятия радиотехнической и электронной промышленности передовых стран мира тратят много сил и средств на отыскание путей уменьшения габаритов и массы радиоэлектронной аппаратуры. Работы эти получают поддержку потому, что развитие многих отраслей науки и техники, таких как космонавтика, вычислительная техника, кибернетика, бионика и другие, требуют исключительно сложного электронного оборудования. К этому оборудованию предъявляются высокие требования, поэтому аппаратура становится такой сложной и громоздкой, что требования высокой надежности и значительного уменьшения габаритов и массы приобретают важнейшее значение. Особенно эти требования предъявляются ракетной технике. Известно, что для подъема каждого килограмма массы аппаратуры космического корабля необходимо увеличить стартовую массу ракеты на несколько сотен килограммов. Чтобы удовлетворить эти требования, необходимо миниатюризировать аппаратуру. Это достигается несколькими методами конструирования радиоэлектронной аппаратуры.
При микромодульном методе конструирования повышение плотности монтажа достигается за счет применения специальных миниатюрных деталей и плотного их монтажа в микромодуле. Благодаря стандартным размерам микромодули размещаются в аппаратуре с минимальными промежутками.
Применение гибридных интегральных микросхем и микросборок также дало возможность миниатюризации радиоэлектронной аппаратуры. При использовании микросхем повышение плотности монтажа достигается тем, что на общей изоляционной подложке располагаются в виде тонких пленок резисторы, проводники, обкладки конденсаторов, такой же принцип используются и в устройствах, изготовленных методом молекулярной электроники, при этом для создании пассивных (резисторы и конденсаторы) и активных (диоды, транзисторы) элементов схем используются слои полупроводниковых материалов.
Следующий этап развития технологии производства радиоэлектронной аппаратуры - технология поверхостного монтажа кристалла (ТПМК). ТМПК обеспечивает миниатюризацию радиоэлектронной аппаратуры при росте ее функциональной сложности. Навесные компоненты намного меньше, чем монтируемые в отверстия, что обеспечивает более высокую плотность монтажа и уменьшает массо-габаритные показатели. ТПМК допускает высокую автоматизацию установки электрорадиоэлементов вплоть до роботизации.
Повышение надежности радиоэлектронных устройств, выполненных указанными методами микроминиатюризации, достигается тем, что во первых, все методы основаны на автоматизации производственных процессов, при этом предусматривается тщательный контроль на отдельных операциях.
Вторая причина состоит в том, что в изделиях, изготовленных на базе микросхем, значительно уменьшается количество паяных соединений, которые являются причиной многих отказов. Метод молекулярной электроники исключает отказы, связанные с различными коэффициентами линейного расширения материалов, ибо при этом методе предусматривается, что конструкция выполняется из однородного материала.
Увеличение надежности конструкций, выполненных методами микроминиатюризации, объясняется также гораздо большими возможностями обеспечить защиту от воздействия внешней среды. Малогабаритные узлы могут быть гораздо легче герметизированы, что к тому же увеличит и механическую прочность. Наконец, применение миниатюрных узлов и деталей позволяет лучше решить задачи резервирования как общего, так и раздельного.
Приложения
Приложение А
Опись документов
№ |
Формат |
Обозначение |
Наименование |
Кол-во листов |
№ экз. |
Прим. |
1 |
A4 |
Пояснительная записка |
54 | |||
2 |
А1 |
Схема электрическая |
1 |
1 | ||
3 |
принципиальная | |||||
4 |
А1 |
Печатная плата |
1 |
1 | ||
5 | ||||||
6 | ||||||
7 | ||||||
8 | ||||||
9 | ||||||
10 | ||||||
11 | ||||||
12 | ||||||
13 | ||||||
14 | ||||||
15 | ||||||
16 | ||||||
17 | ||||||
18 | ||||||
19 | ||||||
20 | ||||||
21 | ||||||
22 | ||||||
23 | ||||||
24 | ||||||
25 | ||||||
26 | ||||||
27 | ||||||
28 | ||||||
29 | ||||||
30 | ||||||
31 | ||||||
32 | ||||||
33 |
Другие рефераты на тему «Программирование, компьютеры и кибернетика»:
Поиск рефератов
Последние рефераты раздела
- Основные этапы объектно-ориентированного проектирования
- Основные структуры языка Java
- Основные принципы разработки графического пользовательского интерфейса
- Основы дискретной математики
- Программное обеспечение системы принятия решений адаптивного робота
- Программное обеспечение
- Проблемы сохранности информации в процессе предпринимательской деятельности